產(chǎn)品詳情
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產(chǎn)品描述
? ? ? 8"大型探針臺，適用于8英寸以內(nèi)樣品測試分析用；
PS：探針臺屬于非標(biāo)產(chǎn)品，均可根據(jù)客戶需求進(jìn)行定制。
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8"探針臺
8"?probe station |
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特點(diǎn) |
類型 |
規(guī)格 |
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*?適應(yīng)8英寸的各種半導(dǎo)體器件的高精度測試 *?舒適大手柄驅(qū)動(dòng)CHUCK * 20X~4000X?光學(xué)顯微放大 *?無后座力移動(dòng) *?針座平臺可以微調(diào)升降便于探針卡再定位 |
顯微鏡控制 |
在探針臺本體的功能設(shè)計(jì)上增加了顯微鏡的氣動(dòng)升降或者顯微鏡傾仰裝置，使在測試過程中更換物鏡和樣品更為方便，避免了會有碰傷樣品和鏡頭的問題 |
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顯微鏡放大倍率：20X~4000X?（倍率可選） |
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顯微鏡X-Y軸行程2" x2" |
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chuck（卡盤） |
尺寸：8英寸，圓形（方形可選） |
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材質(zhì)：不繡鋼（可升級鍍金） |
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旋轉(zhuǎn)角度：0-360°可帶角度鎖定，精度0.1° |
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X-Y移動(dòng)行程：8" x8" |
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Chuck升降：可以快速升降6MM，并且附帶旋鈕細(xì)微調(diào)節(jié)功能 |
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吸附孔：中心孔徑最小可做到250μm，最小可以吸住尺寸為0.3mmX0.3mm，最大能夠吸住尺寸為8"X8" |
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整體規(guī)格 |
尺寸：840mm長?x 660mm寬?x 700mm高(帶顯微鏡) |
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重量：?180 Kg(帶顯微鏡) |
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平臺升降：平臺上下粗調(diào)行程6mm?通過升降桿調(diào)整 平臺上下細(xì)調(diào)行程25 mm?通過旋轉(zhuǎn)手輪 |
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U型大平臺設(shè)計(jì)，可以放置8個(gè)高端探針座，方便技術(shù)人員長時(shí)間舒適操作 |
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可選附件：?laser（激光）系統(tǒng)、探針卡夾具、加熱臺、防震桌、帶真空底座的活動(dòng)Chuck、高壓測試/大電流測試、封裝器件夾具、PCB板夾具、屏蔽箱 |
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