產(chǎn)品詳情
CCS-OPTIMA+點光譜優(yōu)勢:
1,高分辨率,最高可達納米級。
2,高精度,最高可達16納米。
3,同軸光測量,相比較三角反射測量,無測量盲區(qū)。
4,可以測量幾乎所有材料的表面,不論是漫反射表面,或者是高光亮面,或者是透明物體表面。
5,物體表面的顏色對于測量結(jié)果沒有任何影響,可以解決對于激光難以測量的黑色或者白色物體。6,可以同時測量多層玻璃或者膠的厚度。
7,測量頻率可達10KHZ.
特別在高光面和玻璃檢測行業(yè)具有得天獨厚的優(yōu)勢!
晶圓的分析