產(chǎn)品詳情
是專為半導(dǎo)體行業(yè)和Mini LED行業(yè)開發(fā),應(yīng)用于硅晶圓、OLED等表面缺陷檢測。
大光圈F2.7, 高亮度, 對應(yīng)高速度和高效率;
?62大靶面整場,高分辨率3.5μ,中心視場可達 220 lp/mm
整場均勻,低畸變
適配大靶面及線掃描相機:16K3.5μ, 12K5μ, 8K7μ 等
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SC系列大靶面線掃描鏡頭,接受定制需求,相機靶面從60mm到100mm,1倍、2.5倍、3.5倍、5倍等多種倍率,按需求定制。