產(chǎn)品詳情
用途:
適用于對(duì)電工、電子、半導(dǎo)體、芯片、軍工、機(jī)械以及其他零部件、材料等進(jìn)行高低溫(或溫度循環(huán))模擬溫度變化條件下對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行品質(zhì)管理及可靠性測(cè)試。
執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn):
◆GB/T 2423.1-2008(IEC68-2-1)
◆GB/T 2423.2-2008(IEC68-2-2)
◆GJB360.8-2009(MIL-STD.202F)
◆GJBl50.3-2009(MIL-STD-810D)
◆GJBl50.4-2009(MIL-STD-810D)
我們可以提供36至2000L試驗(yàn)箱、4立方(M3)以上步入式高低溫試驗(yàn)箱定制及其他規(guī)格各種非標(biāo)定制和開發(fā)。