產(chǎn)品詳情
1x4引腳型連接器的材料和幾何特性列表如圖5.7所示,62圖5.軸向引線式固態(tài)鉭電容器的材料和幾何特性(供應(yīng)商:Sprague)圖5.連接器(1x4引腳類型)的材料和幾何特性(供應(yīng)商:Molex)632x19針型連接器的伸出長(zhǎng)度和寬度與1X4針型連接器的伸出長(zhǎng)度和寬度不同。
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顯微硬度測(cè)試的常見問題
1、準(zhǔn)確性 – 儀器以線性方式讀取公認(rèn)硬度標(biāo)準(zhǔn)(經(jīng)過認(rèn)證的試塊)的能力,以及將該準(zhǔn)確性轉(zhuǎn)移到測(cè)試樣本上的能力。
2、重復(fù)性- 結(jié)果是否可以使用公認(rèn)的硬度標(biāo)準(zhǔn)重復(fù)。
3、相關(guān)性——兩臺(tái)經(jīng)過正確校準(zhǔn)的機(jī)器或兩個(gè)操作員能否得出相同或相似的結(jié)果(不要與使用同一臺(tái)機(jī)器和同一操作員的重復(fù)性相混淆。
第三種模式的形狀在圖36中用隱藏的蓋子表示,將PCB的自然頻率安裝在盒子中后,其頻率會(huì)提高1.1%,在大撓度點(diǎn)處,振型不受影響,但在螺釘連接處可觀察到細(xì)微差異,該結(jié)果可以歸因于螺紋連接處的邊界條件,僅對(duì)PCB建模時(shí)。 該信息將使在不遭受電路故障的情況下大化組件的使用壽命成為可能,該報(bào)告提出了許多特定的技術(shù),用于提高監(jiān)視電路和儀器維修組件中可能導(dǎo)致儀器維修故障的老化引起的變化的能力,一些討論了在電子儀器維修監(jiān)控之外的應(yīng)用中已使用的有前途的技術(shù)。
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1、機(jī)器。
維氏顯微硬度測(cè)試儀通過使用自重產(chǎn)生力來進(jìn)行測(cè)量。這些輕負(fù)載裝置 (10-2,000 gf) 將自重直接堆疊在壓頭頂部。雖然這消除了放大誤差以及其他誤差,但這可能會(huì)導(dǎo)致重復(fù)性問題。在大多數(shù)情況下,顯微硬度計(jì)使用兩種速度施加載荷——“快”速度使壓頭靠近測(cè)試件,“慢”速度接觸工件并施加載荷。壓頭的“行程”通常用測(cè)量裝置設(shè)定??偠灾?,一件樂器給人留下印象大約需要 30 秒。此時(shí),在進(jìn)行深度測(cè)量或只是試圖在特定點(diǎn)上準(zhǔn)確放置壓痕時(shí),壓頭與物鏡的對(duì)齊至關(guān)重要。如果這部分弄錯(cuò)了,即使硬度值不受影響,但距樣品邊緣的距離也可能是錯(cuò)誤的,終導(dǎo)致測(cè)量錯(cuò)誤。
我們將去購(gòu)買500,承擔(dān)現(xiàn)金負(fù)擔(dān),并進(jìn)行采購(gòu),這是加強(qiáng)ECM/供應(yīng)商關(guān)系的好方法,如果您沒有全部使用500個(gè)零件,請(qǐng)向我們購(gòu)買,但是您不必執(zhí)行BOM的采購(gòu)訂單-雙贏,庫(kù)存如果由于過時(shí)而導(dǎo)致交貨時(shí)間較長(zhǎng)。 雖然我們已經(jīng)能夠使用較小的微芯片降低工作電壓,隨著微芯片變得越來越小,噪聲容限也增加了,這就需要重新考慮PCB的設(shè)計(jì)方式,應(yīng)該為所有信號(hào)(是快速開關(guān)信號(hào))提供接地回路和回路通孔,您還需要將銅澆注物綁在互連件周圍。
2、運(yùn)營(yíng)商。
顯微硬度測(cè)試很大程度上受操作者的能力和技能的影響。正確的聚焦是獲得準(zhǔn)確結(jié)果的關(guān)鍵因素。模糊圖像和結(jié)果很容易被誤讀或誤解。在許多情況下,操作員有時(shí)會(huì)急于進(jìn)行測(cè)試并取出零件。必須小心確保正確的結(jié)果。在許多情況下,機(jī)器的自動(dòng)對(duì)焦可以幫助消除一些由乏味、費(fèi)力和重復(fù)性任務(wù)帶來的感知錯(cuò)誤。
手動(dòng)記錄和轉(zhuǎn)換結(jié)果可能是操作員出錯(cuò)的另一個(gè)原因。疲勞的眼睛很容易將 99.3 視為 9.93。 自動(dòng)給出轉(zhuǎn)換和結(jié)果的數(shù)字顯微硬度測(cè)試儀可以幫助消除這個(gè)問題。此外,相機(jī)幾乎可以連接到任何顯微硬度測(cè)試儀上,以幫助找到印模末端。
盡管儀器維修的復(fù)雜性不斷增加,但成本仍可以保持較低水,在1995年左右,這是開始使用高密度互連器PCB的時(shí)候,這些儀器維修具有較小的線條,焊盤,并具有多種優(yōu)點(diǎn),例如減輕了重量并減小了尺寸,從那時(shí)起,舊的主板就過時(shí)了。 可獲得50密耳的間距,如果使用厚的干膜阻焊膜,則在減小的面積上使用較厚的層可能是一個(gè)優(yōu)點(diǎn),應(yīng)在較小間距的IC上使用少量焊膏,以免形成焊橋[6.11],可以使用減少的屏幕開口面積,也可以使用更薄的屏幕,另請(qǐng)參見第7.3節(jié)。
3、環(huán)境問題。
由于顯微硬度測(cè)試中使用輕負(fù)載,振動(dòng)可能會(huì)影響負(fù)載精度。壓頭或試樣的振動(dòng)會(huì)導(dǎo)致壓頭更深地進(jìn)入零件,從而產(chǎn)生更柔軟的結(jié)果。顯微硬度計(jì)應(yīng)始終放置在專用、水平、堅(jiān)固、獨(dú)立的桌子上。確保您的桌子沒有靠墻或相鄰的桌子。
顯微硬度計(jì)硬度計(jì)機(jī)器具有高倍光學(xué)鏡片。如果在測(cè)試儀附近進(jìn)行切割、研磨或拋光,鏡頭上可能會(huì)沾上污垢,從而導(dǎo)致結(jié)果不準(zhǔn)確。
電源逆變器,配電和其他電源控制設(shè)備,測(cè)量設(shè)備:用于控制制造過程中的溫度,壓力和其他變量的設(shè)備,工業(yè)部門的環(huán)境苛刻,需要根據(jù)其需求量身定制的PCB,有多種類型的儀器維修能夠提供經(jīng)久耐用的高功率應(yīng)用,例如剛撓性PCB。 切線彈性模量,通常稱為[彈性模量",它是在彈性限內(nèi)的比率,是通過將切線繪制到載荷撓度曲線的陡峭的初始直線部分來計(jì)算的,在下面的圖4.9中,顯示了載荷撓度圖,在表4.3中,顯示了在縱向方向上進(jìn)行的三點(diǎn)彎曲測(cè)試所得到的結(jié)果。 而這將花費(fèi)更多,除非您需要設(shè)計(jì)具有自定義形狀的PCB,否則通常好使它保持簡(jiǎn)單并遵守慣例,堅(jiān)持行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)尺寸和組件由于某種原因,電子行業(yè)中存在標(biāo)準(zhǔn)尺寸和組件,從本質(zhì)上講,它為自動(dòng)化提供了可能,使一切變得更簡(jiǎn)單。
動(dòng)作針對(duì)先前分配的排名之一。目標(biāo)如下:消除嚴(yán)重等級(jí)為9或10的所有故障模式潛在原因的發(fā)生率排名較低測(cè)試/評(píng)估技術(shù)的檢測(cè)等級(jí)較低責(zé)任和目標(biāo)完成日期在此,記錄了負(fù)責(zé)人的姓名和完成操作的日期。如果存在項(xiàng)目時(shí)間軸,并且可以顯示日期和里程碑之間的鏈接,則可以使用里程碑名稱代替特定的日期。MFMEA第5節(jié)采取的行動(dòng)和完成日期機(jī)械FMEA將采取行動(dòng),將較高風(fēng)險(xiǎn)的項(xiàng)目帶到可接受的風(fēng)險(xiǎn)水。應(yīng)對(duì)每次采取的行動(dòng)記錄行動(dòng)結(jié)果。如果該操作失敗,則應(yīng)確定另一個(gè)操作。重要的是要注意,可接受的風(fēng)險(xiǎn)是可取的,將高風(fēng)險(xiǎn)降低為低風(fēng)險(xiǎn)是主要目標(biāo)。重新排名RPN采取措施后,應(yīng)將新的(重新排序的)RPN與原始的RPN進(jìn)行比較。減少RPN是本專欄的主要目標(biāo)。
很少的預(yù)防措施要比許多補(bǔ)救措施要好得多,期望路由器了解您的想法是一個(gè)愚蠢的想法,您的建議和指示在路由設(shè)計(jì)的主要階段為重要,您可以提供的信息越多,參與設(shè)計(jì)的內(nèi)容就越多,您可以獲得的PCB越好,這是一個(gè)好方法:您可以為PCB設(shè)計(jì)工程師設(shè)置一個(gè)暫定的完成點(diǎn)。 由于發(fā)生故障的電路的電阻僅增加了10%,可以施加低水的直流電流,從而允許發(fā)生故障的互連局部發(fā)熱,與其他(堅(jiān)固)微孔相比,受損的微孔具有更高的電阻,并且它將成為試樣中熱的結(jié)構(gòu),并可以使用熱像儀輕松找到,熱像儀可以直接顯示弱的微孔的確切位置(參見照片26和27)。 由于組件終端下存在殘留物,過早失效或功能不當(dāng)?shù)娘L(fēng)險(xiǎn)增加了,標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試協(xié)議和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)可能不再適用,這樣,將與清潔度相關(guān)的數(shù)據(jù)電功能和故障相關(guān)聯(lián)存在更大的挑戰(zhàn),帶著這些并發(fā)癥OEM必須確定以下內(nèi)容:,要生成的數(shù)據(jù)。 如果電纜內(nèi)部的單根電線的絕緣性能下降,則裸露的電線會(huì)相互通過,從而導(dǎo)致伺服設(shè)備短路,嘗試使冷卻劑遠(yuǎn)離電纜,并經(jīng)常檢查電纜是否有劣化跡象,8.過度使用設(shè)備在高電流下長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行伺服設(shè)備會(huì)導(dǎo)致定子短路,伺服設(shè)備應(yīng)在一定的額定容量下運(yùn)行。
過程更改會(huì)在統(tǒng)計(jì)過程控制圖中記錄下來。尋找潛在變化的另一個(gè)領(lǐng)域是系統(tǒng)操作環(huán)境。有時(shí),細(xì)微的環(huán)境變化足以導(dǎo)致故障。根據(jù)系統(tǒng)的環(huán)境能力來評(píng)估發(fā)生故障的系統(tǒng)所處的環(huán)境是有意義的。即使發(fā)生故障時(shí)系統(tǒng)可能已經(jīng)在其的環(huán)境中運(yùn)行,也不難發(fā)現(xiàn)由于設(shè)計(jì)疏忽,系統(tǒng)的一個(gè)或多個(gè)組件或子組件被要求在其額定值之外運(yùn)行。環(huán)境。例如,封閉式電子柜中的電源可能在高于設(shè)計(jì)人員預(yù)期的溫度下運(yùn)行。離開之前“有什么不同”分析,有幾點(diǎn)需要注意?;叵胍幌拢陂_始討論時(shí),我們確定了一個(gè)基本前提,即發(fā)生更改以引起故障。事實(shí)并非如此。有時(shí)什么都沒有改變,而失敗是由于正常的統(tǒng)計(jì)變化所致。還有另一種可能性,那就是故障可能一直都在發(fā)生,但是以前沒有發(fā)現(xiàn)。
APT1自動(dòng)電位滴定儀啟動(dòng)不了(維修)公司在過去,這是一個(gè)完整的示意圖?,F(xiàn)在,如果有的話,它僅顯示關(guān)鍵部件的部件號(hào)和位置,偶爾顯示一些測(cè)試點(diǎn)和電壓-仍然非常有用。某些電視-直到10年前,甚至可能是現(xiàn)在-都包含帶有產(chǎn)品信息和用戶手冊(cè)的完整示意圖。我有一個(gè)1984年的Mitsubishi,它帶有非常好的高質(zhì)量多頁(yè)示意圖。但是,這是非常偶然的例外,而不是A/V設(shè)備的規(guī)則。Microwaveovensdoalmostalwayshaveaschematicdiagramofthemicrowavepowergenerationcircuitrypastedinsidethesheetblcover.Thiswillgenerallyincludeatleastthehighvoltagetransber,interlocks,rectifier,capacitor,andmagnetron.Sincemostmicrowaveovenproblemsareintheseareas,thisisallyouarelikelytoneed.Thecontroller,especiallyelectronicunits,isoftenomittedoronlycoveredsuperficially.AdditionalSourcesforServiceInbationandManuals如果無法通過Sams的Photofact獲得(或即使有)設(shè)備上的服務(wù)信息。 kjbaeedfwerfws