產(chǎn)品詳情
1. 主要測塊體樣品,尺寸大于1*1cm2,對于非均勻樣品,不一定保證可以掃到滿意結(jié)果。一般不測粉末,有需要請?zhí)崆皽贤?,粉末需要比較細膩,顆粒平均直徑不超過30 μm。
2. 測試樣品的表面需具有一定的反光率,樣品臺階的高度不能大于10mm。
3.樣品需平整,表面粗糙度小于300 μm;
表面粗糙度小于300μm可以,納米級別的建議用AFM測試。
測試范圍:1mm*1mm,若無特殊要求實驗室自行確定,一個樣品拍攝位置數(shù)目一般拍攝2個,多出2個位置需要加收費用。
1.掃描范圍是多少?
三維形貌輪廓儀掃描一次范圍是1.69mm * 1.26mm。
2.樣品范圍較大,怎么