產(chǎn)品詳情
微量天平(百萬(wàn)分之一電子天平)梅特勒托利多XS3DU特征和利益:
梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有卓越的稱量性能,完全滿足基礎(chǔ)稱量應(yīng)用:在800 mg的精細(xì)量程范圍內(nèi)提供1 μg的可讀性。具有同類(lèi)產(chǎn)品中的重復(fù)性可低至0.8 μg,是獲得理想的稱量可靠性的關(guān)鍵,避免不必要的重復(fù)測(cè)試,顯著地降低了樣品和時(shí)間的浪費(fèi)。
梅特勒-托利多XS3DU微量天平專(zhuān)為提高稱量效率和可靠性而設(shè)計(jì)。
的稱量性能: XS3DU微量天平具有高性能的稱量傳感器,提供稱量結(jié)果的至高重復(fù)性。 |
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杰出的用戶友好界面: TouchScreen觸摸屏,實(shí)現(xiàn)快速簡(jiǎn)單的稱量操作。 |
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連通性: 標(biāo)配RS232接口,以第二接口選件插槽,可提供多種通訊接口選件,包括以太網(wǎng)、藍(lán)牙(無(wú)線連接)和PS/2等,進(jìn)行有效的數(shù)據(jù)采集,便于網(wǎng)絡(luò)集成。 |
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U形去靜電裝置(選件): 消除稱量樣品和容器中積聚的靜電荷,確保稱量的準(zhǔn)確性。 |
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規(guī)格 - XS3DU微量天平(百萬(wàn)分之一電子天平) | |
稱量范圍 | 0.8 g / 3.1 g |
可讀性 | 1 μg / 10 μg |
微量天平(百萬(wàn)分之一電子天平)梅特勒托利多XS3DU技術(shù)參數(shù) :
極限值 | XS3DU 雙量程 |
稱量值 | 3.1 g |
可讀性 | 0.01 mg |
稱量值 | 0.8 g |
可讀性 | 0.001 mg |
重復(fù)性(sd) - 加載處 | 0.006 mg |
- 低加載(加載處) | 0.005 mg (0.2 g) |
重復(fù)性(sd) - 加載處 | 0.001 mg |
- 低加載(加載處) | 0.0008 mg (0.2 g) |
線性誤差 | 0.004 mg |
四角誤差(加載處)1) | 0.005 mg (2 g) |
典型值 4) | |
典型重復(fù)性(sd) | 0.0005 mg +1.2 x (10?C7)?R_gr |
典型微分非線性(sd) | √2x(10-12)g?R_nt |
典型微分四角誤差(sd) | 1.2 x (10?C6)?R_nt |
典型靈敏度偏移(sd)2) | 3 x (10?C6)?R_nt |
典型最小稱量值* (@ U=1 %, 2 sd) | 0.1 mg+2.4 x (10?C6)?R_gr |
典型穩(wěn)定時(shí)間 | <6 sec |
穩(wěn)定時(shí)間 | <10 sec |
1) 根據(jù)OIML R76
2) 在10到30°C的溫度范圍內(nèi)
3) ***次安裝,使用proFACT校準(zhǔn),靈敏度穩(wěn)定性
4) 能用于估計(jì)不確定度 ?sd=標(biāo)準(zhǔn)偏差 ? ? ?Rgr=毛重 ? ? Rnt=凈重(樣品質(zhì)量) ? a=年
* ?重復(fù)性和最小稱量值可以通過(guò)以下措施得以改進(jìn):- 選擇適當(dāng)?shù)姆Q量參數(shù)設(shè)置,- 選擇合適的天平放置位置,- 使用較小的去皮容器。 微量天平(百萬(wàn)分之一電子天平)梅特勒托利多XS3DU標(biāo)準(zhǔn)配置:
TouchScreen觸摸屏,方便天平稱量和參數(shù)設(shè)置SmartTrac彩色動(dòng)態(tài)圖形顯示器:圖形稱量輔助,跟蹤稱量范圍和公差可設(shè)置多達(dá)10個(gè)特定功能的快捷鍵可定義3個(gè)的信息,用于用戶和樣品標(biāo)識(shí)內(nèi)置RS232C和兩個(gè)輔助接口;用于連接鍵盤(pán)或ErgoSens外接紅外感應(yīng)器選件,實(shí)現(xiàn)無(wú)需用手接觸的稱量操作第二接口選件插槽;例如LocalCAN,以太網(wǎng),RS232,MiniMettler,藍(lán)牙或PS/2等接口選件手動(dòng)開(kāi)關(guān)門(mén)的玻璃防風(fēng)罩可更換的顯示屏保護(hù)蓋下掛鉤稱量具有過(guò)載保護(hù)的稱量傳感器 |
內(nèi)置稱量應(yīng)用程序
顯示多種質(zhì)量單位 |
差重稱量應(yīng)用程序 |
計(jì)件和百分比稱量應(yīng)用程序 |
統(tǒng)計(jì)應(yīng)用程序 |