產(chǎn)品詳情
CAN一致性測試主要分為物理層、鏈路層、應(yīng)用層三大部分測試內(nèi)容。在CAN網(wǎng)絡(luò)中，各節(jié)點(diǎn)遵循CAN一致性測試是保證總線穩(wěn)定運(yùn)行的重要前提。在物理層中，CAN總線設(shè)計規(guī)范對于CAN節(jié)點(diǎn)的輸入電壓閾值有著嚴(yán)格的規(guī)定，如果節(jié)點(diǎn)的輸入電壓閾值不符合規(guī)范，則在現(xiàn)場組網(wǎng)后容易出現(xiàn)不正常的工作狀態(tài)，各節(jié)點(diǎn)間出現(xiàn)通信故障，所以輸入電壓閾值測試也是CAN物理層一致性測試中的重要部分。測試標(biāo)準(zhǔn)每個廠家在產(chǎn)品投入使用前，都要進(jìn)行CAN節(jié)點(diǎn)的輸入電壓閾值測試，一般都是遵循ISO11898-2輸入電壓閾值標(biāo)準(zhǔn)，具體要求如表1所示。
一、工作原理
耐磨熱電阻工作原理：在溫度作用下，熱電阻絲的電阻隨之變化而變化，顯示儀表將會指示熱電阻產(chǎn)生的電阻值所對應(yīng)的溫度值。 隔爆型熱電阻?隔爆型熱電阻通過特殊結(jié)構(gòu)的接線盒，把其外殼內(nèi)部易爆性混合氣體因受到火花或電弧等影?電阻體的斷路修理必然要改變電阻絲的長短而影響電阻值，為此更換新的電阻體為好，若采用焊接修理，焊后要校驗(yàn)合格后才能使用。從熱電阻的分度特性中已知，鉑電阻的平均每度電阻變化率是0.385Ω/℃，銅電阻的平均每度電阻變化率是0.428Ω/℃；引線電阻不得使熱電阻超出了其測溫的允許偏差，兩線制引線電阻不得大于0.1Ω，否則就需做技術(shù)處理以扣除引線電阻
可以作為標(biāo)準(zhǔn)測試納入產(chǎn)品的測試流程中，也可以為電子工程師設(shè)計穩(wěn)定可靠的通信電路提供直觀的參考。以太網(wǎng)分析具體支持哪些功能？支持1base-TX標(biāo)準(zhǔn)的以太網(wǎng)信號分析；支持以太網(wǎng)眼圖功能；支持發(fā)送抖動，幅值特性，上升下降時間，占空比失真等單項(xiàng)測試功能；支持完整測試功能（即是包括以上的單項(xiàng)測試功能），僅有該功能可導(dǎo)出測試報告；自動設(shè)置測試環(huán)境，免除手動操作；支持長時間測試統(tǒng)計，驗(yàn)證信號穩(wěn)定性。以太網(wǎng)分析可以得到哪些結(jié)果？以太網(wǎng)眼圖分析界面如所示：以太網(wǎng)眼圖分析界面完整測試后的數(shù)據(jù)報表可直接導(dǎo)出，支持網(wǎng)頁報表“html”數(shù)據(jù)格式，如所示為導(dǎo)出的網(wǎng)頁報表文件截圖示例。如果沒有通過該部分功能測試，將無法通過國網(wǎng)招標(biāo)，以及在充電樁協(xié)議通訊的底層出現(xiàn)信號質(zhì)量問題，影響后續(xù)充電進(jìn)程。注：具體要求解讀如《充電樁標(biāo)準(zhǔn)解讀》所示。充電樁及充電堆底層調(diào)試充電樁運(yùn)行是強(qiáng)電磁干擾環(huán)境，造成共模干擾串?dāng)_到總線上從而導(dǎo)致通訊錯誤，出現(xiàn)大量錯誤幀，使通訊出現(xiàn)故障或者整個充電樁崩潰無法運(yùn)行。所以需要關(guān)注CAN總線幅值、波形、邊沿、共模信號等細(xì)節(jié)，從而保證信號穩(wěn)定。充電堆是多樁進(jìn)行充電，總體通訊在同一條CAN總線上，需要關(guān)注負(fù)載率測試。
1.溫度測量范圍及允差：
WZP型耐磨熱電阻 ：
-200～600 Pt100
B級(-200～600℃ 允差±(0.30+0.005|t|)
A級(-200～550℃) 允差±(0.15+0.002|t|)
WZC型銅電阻:
-50～100 Cu50
-50～100℃ 允差±(0.3+6.0×10-3t)
注：式中"t"為感溫元件的實(shí)測溫度值。 
另外一種常見于ARM芯片，我們知道ARM芯片采用統(tǒng)一的編程接口SWD接口，某些ARM芯片會提供兩個AP(AccessPort)，通過關(guān)閉訪問內(nèi)部空間的AP可以達(dá)到加密的目的。而如果想解鎖，就要訪問另一條AP，這條AP只可以訪問一個寄存器，通過寫入該寄存器特定的數(shù)據(jù)就可以將芯片重置為默認(rèn)狀態(tài)。還有一種加密方式和上面類似，只不過采用了兩個編程接口，而不是同一編程接口的兩條AP。總之，一級加密就是讓你無法讀取芯片數(shù)據(jù)，而又可以通過擦除再次升級固件。
主要特點(diǎn)：
（1）測量精度高；
（2）直徑小，長度受限制；
（3）進(jìn)口薄膜電阻元件，性能可靠穩(wěn)定； 在進(jìn)行熱電阻的選型時，先的是要確定測溫范圍和測溫精度要求
（4）耐磨熱電阻通常由鎧裝鉑熱電阻感溫元件、安裝固定裝置和接線裝置等主要部件組成等熱響應(yīng)時間少，減小動態(tài)誤差； 與熱電偶一樣，從理論上講沒有材質(zhì)、組織結(jié)構(gòu)、加工狀態(tài)完全相同的兩支熱電阻，所以任何一支熱電阻都與標(biāo)準(zhǔn)分度表有偏差，任何一支熱電阻的兩次測試結(jié)果也不一致，都只能在一定程度上符合標(biāo)準(zhǔn)分度表
從古代的腳步丈量法到現(xiàn)如今激光測距的普及，測量工具在不斷的升級。但是有一點(diǎn)沒有改變，那就是測量者必須跟隨測量工具一起移動到測量距離的一端。然而，通過使用VH-8測距儀，用戶可以測量線中間的任意位置來測量兩點(diǎn)之間的距離。在復(fù)雜的工作環(huán)境中測量時，經(jīng)常會感覺兩只手不夠用，通過使用VH-8都可以解決這些問題。VH-8測距儀一次可以測量三個數(shù)值：從測距儀到左端的距離、從測距儀到右端的距離和從左到右的直線距離。
（5）耐磨熱電阻外保護(hù)管采用不銹鋼，內(nèi)充滿高密度冶金級鎂砂氧化物質(zhì)絕緣體，因此它具有很強(qiáng)的抗污染和優(yōu)良的機(jī)械強(qiáng)度，適合安裝在環(huán)境惡劣的場合。鎧裝銅電阻由于測溫較低，可用有機(jī)材料絕緣代替無機(jī)氧化鎂絕緣，制作工藝與鎧裝鉑電阻可以不同1靜態(tài)電流的測試一定電壓下，讓IC處于無負(fù)載，無震蕩狀態(tài)，將電流表的一端接電源的正極，另一端接IC的VDD腳，電流表的讀數(shù)極為IC的靜態(tài)電流。2驅(qū)動電流的測試一定電壓下，將IC的負(fù)載用可調(diào)電阻代替，讓IC正常工作，當(dāng)輸出口有輸出時，調(diào)節(jié)可調(diào)電阻的阻值，使IC輸出端的電平滿足測試要求。以上測試需求，根據(jù)電壓規(guī)格要求，精度要求，推薦合適的直流電源，如IT64雙極性電源；IT61高速高精度電源；其中IT64雙極性電源高至na級別的精度，既作為供電電源，又可以測試靜態(tài)電流。
工業(yè)上常用金屬熱電阻從電阻隨溫度的變化來看，大部分金屬導(dǎo)體都有這個性質(zhì)，但并不是都能用作測溫?zé)犭娮瑁鳛闊犭娮璧慕饘俨牧弦话阋螅罕M可能大而且穩(wěn)定的溫度系數(shù)、電阻率要大（在同樣靈敏度下減小傳感器的尺寸）、在使用的溫度范圍內(nèi)具有穩(wěn)定的化學(xué)物理性能、材料的復(fù)制性好、電阻值隨溫度變化要有間值函數(shù)關(guān)系（呈線性關(guān)系）Pt100RTD概述Pt100RTD是一種鉑質(zhì)RTD傳感器，可在很寬的溫度范圍內(nèi)提供卓越的性能。鉑是一種貴金屬，作為常用的RTD材料具有的電阻率，能實(shí)現(xiàn)小尺寸的傳感器。由鉑制成的RTD傳感器有時被稱為鉑電阻溫度計或PRT。Pt100RTD在0℃時阻抗為100Ω，每1℃的溫度變化大約會引起0.385Ω的電阻變化。當(dāng)處于可用溫度范圍的極限時，電阻為18.51Ω(在-200℃時)或390.48Ω(在850℃時)。 熱電阻公式都是Rt=Ro(1+A*t+B*t*t);Rt=Ro[1+A*t+B*t*t+C(t-100)*t*t*t]?的形式，t表示攝氏溫度，Ro是零攝氏度時的電阻值，A、B、C都是規(guī)定的系數(shù)，對于Pt100,Ro就等于100。通常制造商會直接分段給出不同范圍內(nèi)的精度，如在產(chǎn)品說明中給出-50℃～300℃滿足A級，在300℃～500℃內(nèi)為B級精度
在這方面，羅德與施瓦茨充分發(fā)揮業(yè)界的技術(shù)實(shí)力，為RSQPS201設(shè)計了兩面固態(tài)矩陣面板，內(nèi)含數(shù)千個收發(fā)天線，構(gòu)成一套高精度的雙面測量系統(tǒng)。測量過程中，每個天線僅工作一瞬間，儀器在幾十毫秒內(nèi)完成全部的信號探測工作。由于RSQPS201的天線數(shù)量和規(guī)模遠(yuǎn)超業(yè)界同類產(chǎn)品，可以獲得更高信噪比的信號，利于后續(xù)程序計算識別可疑物。圖2毫米波收發(fā)矩陣示意圖在信號處理和可疑物識別方面，RSQPS201使用業(yè)界的數(shù)據(jù)處理加速器，將海量的信號數(shù)據(jù)加速處理，使得儀器對信號具有極高的合成運(yùn)算速度。
