產(chǎn)品詳情
光學(xué)元件外觀缺陷檢測(cè)儀,利用光學(xué)方法，采用權(quán)值成像數(shù)據(jù)分析原理，用來(lái)檢測(cè)光學(xué)元件的表面外觀缺陷問(wèn)題。測(cè)量時(shí)，將待測(cè)產(chǎn)品置于光學(xué)鏡頭下方，逐個(gè)采集每個(gè)產(chǎn)品表面的圖像，并對(duì)圖像進(jìn)行連續(xù)的數(shù)字化處理分析，然后與預(yù)存的“標(biāo)準(zhǔn)”進(jìn)行比較分析進(jìn)而作出缺陷結(jié)論。
極高的性價(jià)比：
完全的自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)大大提高了性價(jià)比，使客戶不論在投資和管理上都能輕松的使用光學(xué)元件外觀缺陷檢測(cè)儀。
強(qiáng)大的檢測(cè)能力：
采用自主開(kāi)發(fā)的操作軟體，配合高像素彩色攝像機(jī)和特殊的光源設(shè)置，能夠檢測(cè)包括劃痕、臟污、印子等各種類型的表面缺陷，同時(shí)可達(dá)15微米/象素的高分辨率，完全適應(yīng)任何元器件的檢測(cè)。
l 強(qiáng)大的自動(dòng)學(xué)習(xí)功能：
編程簡(jiǎn)單快捷，同時(shí)強(qiáng)大的自動(dòng)學(xué)習(xí)功能，使各種規(guī)格、類型的器件都可以通過(guò)在器件輪廓處畫(huà)框?qū)W習(xí)，電腦主板的編程時(shí)間為1.5~2小時(shí)，能很好的適應(yīng)生產(chǎn)線的快速變化。
l 極高的易用性：
中英文界面可選，并配備學(xué)習(xí)向?qū)В僮骱?jiǎn)單；另外只需要器件的XY坐標(biāo)和電路板的出料單（BOM）或者貼片機(jī)導(dǎo)出文件就可以自動(dòng)學(xué)習(xí)。
光學(xué)元件外觀缺陷檢測(cè)儀
判別方法：權(quán)值成像數(shù)據(jù)差異分析、彩色成像比對(duì)原理
檢測(cè)內(nèi)容：元件有無(wú)、偏斜、劃痕、缺塊、臟污、印子、污染、缺件、偏移、歪斜、錯(cuò)字、破損、刮傷、灰塵、長(zhǎng)度、寬度、角度、弧度等缺陷。
隨著電子產(chǎn)品日益復(fù)雜化和制造業(yè)的人工成本越來(lái)越高，提高生產(chǎn)率和自動(dòng)化將是必然的趨勢(shì)，能夠提供優(yōu)化的技術(shù)和方案給客戶對(duì)臺(tái)州振皓的長(zhǎng)遠(yuǎn)業(yè)務(wù)發(fā)展至關(guān)重要。
