產(chǎn)品詳情
一、認(rèn)證測(cè)試
(1)加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試:偏高濕度、溫度循環(huán)、功率溫度循環(huán)、高溫儲(chǔ)存壽命
(2)加速壽命模擬測(cè)試:高溫工作壽命、早期失效率
(3)可靠性測(cè)試:振動(dòng)、沖擊、恒加速應(yīng)力、跌落、扭力、切應(yīng)力、拉力、
(4)電氣特性確認(rèn)測(cè)試:靜電放電、電分配、電磁兼容
(5)密封性測(cè)試:粗細(xì)漏檢、內(nèi)部水汽含量
(6)篩選監(jiān)控測(cè)試:部件平均測(cè)試、統(tǒng)計(jì)良率分析
(7)破壞性物理分析:
覆蓋標(biāo)準(zhǔn)
l AEC-Q001 零件平均測(cè)試指導(dǎo)原則
l AEC-Q002 統(tǒng)計(jì)式良品率分析的指導(dǎo)原則
l AEC-Q003 芯片產(chǎn)品的電性表現(xiàn)特性化的指導(dǎo)原則
l JEDEC JESD-22 封裝器件可靠性測(cè)試方法
l MIL-STD-883 微電子測(cè)試方式和程序
l GJB548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序
l EIA -469 破壞性的物理分析
l MIL-STD-202 電子和電氣元器件測(cè)試方法
l J-STD-002 可焊性規(guī)格
l MIL-PRF-27 電感/變壓器測(cè)測(cè)試方法
l JESD22-A121 測(cè)量錫及錫合金表面涂層的錫須生長(zhǎng)的