產(chǎn)品詳情
Chroma 19301A 為繞線組件脈沖測(cè)試器，結(jié)合了高低感量測(cè)試技術(shù)應(yīng)用，擁有1000Vdc脈沖電壓與200MHz高速取樣率，可提供0.1uH~100uH 大范圍感量產(chǎn)品測(cè)試滿足絕大部份功率電感測(cè)試需求，
擁有波形面積比較(AREA SIZE)、 波形面積差比較(DIFFERENTIAL AREA)、波形顫動(dòng)偵測(cè)(FLUTTER)、波形二階微分偵測(cè) (LAPLACIAN)、
波峰降比偵測(cè)(ΔPEAK RATIO)/ 波峰比偵測(cè)(PEAK RATIO)及共振波面積比(Δ RESONANT AREA)等判定方法，可有效檢測(cè)線圈自體絕緣不良。
繞線組件于生產(chǎn)檢測(cè)包含電氣特性、電氣安規(guī)耐壓進(jìn)行測(cè)試，而線圈之自體絕緣不良通常是造 成線圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、出腳短路之根源。
其形成原因可能源于初始設(shè)計(jì)不良、 molding加工制程不良，或絕緣材料之劣化等所 引起，故加入線圈層間短路測(cè)試有其必要性。
主要特點(diǎn)
高低感量測(cè)試應(yīng)用(0.1μH~100μH)
10V~1000V脈沖測(cè)試電壓， 0.25V測(cè)量分辨率
高速測(cè)試快18mS (Pulse 1.0 ; for ACQ)
具備電感測(cè)量接觸檢查功能
具備電感差異電壓補(bǔ)償功能
脈沖測(cè)試高取樣率(200MHz)，10bits
崩潰電壓分析功能
低電壓量測(cè)文件位,提高波形分析靈敏度 (25V/50V/100V/200V/400V/800V/1000V)
繁中/ 簡(jiǎn)中/ 英文操作接口
USB波形儲(chǔ)存與畫(huà)面擷取功能
圖形化彩色顯示
擁有波形面積比較(AREA SIZE)、 波形面積差比較(DIFFERENTIAL AREA)、波形顫動(dòng)偵測(cè)(FLUTTER)、波形二階微分偵測(cè) (LAPLACIAN)、
波峰降比偵測(cè)(ΔPEAK RATIO)/ 波峰比偵測(cè)(PEAK RATIO)及共振波面積比(Δ RESONANT AREA)等判定方法，可有效檢測(cè)線圈自體絕緣不良。
繞線組件于生產(chǎn)檢測(cè)包含電氣特性、電氣安規(guī)耐壓進(jìn)行測(cè)試，而線圈之自體絕緣不良通常是造 成線圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、出腳短路之根源。
其形成原因可能源于初始設(shè)計(jì)不良、 molding加工制程不良，或絕緣材料之劣化等所 引起，故加入線圈層間短路測(cè)試有其必要性。
主要特點(diǎn)
高低感量測(cè)試應(yīng)用(0.1μH~100μH)
10V~1000V脈沖測(cè)試電壓， 0.25V測(cè)量分辨率
高速測(cè)試快18mS (Pulse 1.0 ; for ACQ)
具備電感測(cè)量接觸檢查功能
具備電感差異電壓補(bǔ)償功能
脈沖測(cè)試高取樣率(200MHz)，10bits
崩潰電壓分析功能
低電壓量測(cè)文件位,提高波形分析靈敏度 (25V/50V/100V/200V/400V/800V/1000V)
繁中/ 簡(jiǎn)中/ 英文操作接口
USB波形儲(chǔ)存與畫(huà)面擷取功能
圖形化彩色顯示
標(biāo)準(zhǔn)LAN、USB、RS232 接口
需要可以在網(wǎng)頁(yè)上搜索《深圳市寶安區(qū)沙井方豐瑞儀器設(shè)備經(jīng)營(yíng)部》可找到我們哦~
鄧：135-1015-2816（v同）
彭：158-1859-4082（v同）
