產(chǎn)品詳情
可控硅阻斷特性測(cè)試儀SCRD5KV
陜西天士立科技有限公司
專注半導(dǎo)體檢測(cè)·電學(xué)檢測(cè)·可靠性檢測(cè)·老化實(shí)驗(yàn)
可控硅阻斷特性測(cè)試儀SCRD5KV
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
1. 該測(cè)試儀電路主要分為控制電路和高壓電路兩部分。測(cè)試儀接通電源后，由電子調(diào)壓器調(diào)整高壓變壓器的輸出，經(jīng)整流及正反向轉(zhuǎn)換后，產(chǎn)生頻率為50HZ、底寬10mS的正弦半波電壓施加到被測(cè)器件兩端，同時(shí)電壓經(jīng)衰減后反饋到控制電路，經(jīng)運(yùn)放采樣電路整定后輸入單片機(jī)，由單片機(jī)抓取峰值并顯示，漏電流由回路中的標(biāo)準(zhǔn)取樣電阻取得，經(jīng)運(yùn)放采樣電路后輸入單片機(jī)，由液晶屏顯示。
2. 被測(cè)元件達(dá)到電壓或電流設(shè)定值，單片機(jī)輸出低電平信號(hào)，電子調(diào)壓器回零，切斷主電路中的固態(tài)繼電器，使其關(guān)斷，高壓及被測(cè)元件失電，從而起到保護(hù)元件的作用。
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可控硅阻斷特性測(cè)試儀SCRD5KV
基礎(chǔ)信息
1. 測(cè)試對(duì)象：晶閘管、雙向晶閘管、整流二極管、橋堆
2. 測(cè)試參數(shù)：VDRM、VRRM、IDRM、IRRMVRRM、IRRM
3. 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：《反向阻斷晶閘管測(cè)試方法》（JB/T7626-2013）
4. 操控方式：?jiǎn)纹瑱C(jī)程控，結(jié)果和曲線觸摸屏顯示，U盤可拷貝
5. 產(chǎn)品結(jié)構(gòu)：臺(tái)式單機(jī)，程控操作，電壓及漏電自保護(hù)
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性能指標(biāo)
斷態(tài)及反向重復(fù)峰值電壓（VDRM、VRRM）
1. 調(diào)節(jié)范圍：0～5.00kV連續(xù)可調(diào)
2. 控制精度范圍：0.50～5.00kV
3. 分辨率0.01kV，精度±3%
斷態(tài)及反向重復(fù)峰值漏電流（IDRM、IRRM）
1. 測(cè)試范圍：0～100.0mA
2. 分辨率0.1mA，精度±3%±0.2mA
3. 電壓波形：正弦半波
4. 測(cè)試頻率：50Hz/5Hz
5. 測(cè)試數(shù)據(jù)顯示方式：液晶屏
6. 測(cè)試方式：自動(dòng)
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