產(chǎn)品詳情
MTO-122T型號(hào)轉(zhuǎn)盤(pán)軸承生產(chǎn)廠家
MTO-122T型號(hào)轉(zhuǎn)盤(pán)軸承具有以下特性：
1.2.1 絕熱量熱耐高溫
我們采用絕熱量熱計(jì)法是將封閉在一個(gè)絕熱環(huán)境中的試樣直接通電加熱，通過(guò)記錄所加電能、試樣溫度增加量及試樣的質(zhì)量而計(jì)算材料微分比熱容。
適用的溫度范圍：4.2~1900K。
精度：低溫區(qū)域內(nèi)誤差不超過(guò)0.5%~1.2%，超過(guò)100K誤差增加，高溫時(shí)為2%~5%。
絕熱量熱計(jì)分為梁總：1）等溫?zé)崞亮繜嵊?jì)，2）絕熱屏量熱計(jì)。
方法：（1）連續(xù)加熱法，在全部試驗(yàn)過(guò)程中對(duì)試樣一直進(jìn)行電加熱，并控制使熱屏與試樣的溫度始終保持一致；（2）周期加熱法，在沒(méi)有進(jìn)行電加熱時(shí)，使樣品與熱屏溫度處于平衡狀態(tài)，在限定時(shí)間內(nèi)通電加熱使試樣有很小的升溫。
注意事項(xiàng)：（1）準(zhǔn)確測(cè)量比熱容的關(guān)鍵是防止樣品銅周?chē)h(huán)境發(fā)生熱交換，應(yīng)采用系統(tǒng)抽空除氣和樣品外圍安裝輻射屏蔽的辦法，以防止試樣與環(huán)境的對(duì)流、傳導(dǎo)和輻射交換；（2）調(diào)節(jié)并控制熱屏的溫度跟蹤試樣的溫度，使兩者的溫度始終保持一致，保證試樣與周?chē)h(huán)境沒(méi)有熱交換；（3）在低溫下試驗(yàn)可根據(jù)不同需要采用不同的恒溫浴的介質(zhì)，如液氦、液氫、液氨、干冰或酒精等。
APTAC (左)、PhiTEC II（中）、VSP2（右）
1.2.2 下落法
下落法測(cè)量比熱容是將試樣掛在高溫爐中加熱到待測(cè)溫度并落到量熱計(jì)中以測(cè)量其比熱容。試樣落到量熱計(jì)中放出的熱量為試樣在高溫?zé)嵩礈囟扰c量熱計(jì)平均溫度之間熱焓的變化。
適用的溫度范圍：室溫至3700K。
樣下落后焓變計(jì)算示意圖
下落法測(cè)定比熱容的裝置由兩部分組成，即高溫爐和量熱計(jì)系統(tǒng)。下落法所用量熱計(jì)按其結(jié)構(gòu)不同可分為水卡計(jì)、銅卡和冰卡計(jì)。銅卡計(jì)有兩種：帶有等溫套的銅卡計(jì)和帶有絕熱屏的絕熱卡計(jì)。
方法（銅卡計(jì)）：（1）初始階段—試樣未落入銅卡計(jì)之前，試樣被高溫爐加熱到溫度T，銅卡計(jì)溫度為T(mén)1；（2）主階段——樣品落入后，銅卡計(jì)溫度迅速上升；（3）末階段—銅卡計(jì)內(nèi)的試樣放熱完畢，銅卡計(jì)與試樣共同達(dá)到溫度T2。
注意事項(xiàng)：（1）試樣由爐子下落到銅卡計(jì)的過(guò)程中，試樣的輻設(shè)熱損隨溫度的增加而急劇增加。因此，在高溫實(shí)驗(yàn)中通常用兩次試驗(yàn)來(lái)消除輻射熱損的影響；（2）量熱計(jì)每升高1K所需要的熱量必須精確標(biāo)定；（3）銅卡計(jì)的準(zhǔn)確度和不確定度采用質(zhì)量分?jǐn)?shù)大于99.9%的a-Al2O3作為標(biāo)準(zhǔn)樣品來(lái)標(biāo)定。
下落法銅卡計(jì)高溫比熱容測(cè)試裝置圖
1—下落機(jī)構(gòu)；2—試樣；3—爐子；
4—閥門(mén)；5—銅卡計(jì)；6—水浴。
1.2.3 通電加熱脈沖法
通電脈沖法測(cè)量比熱容是對(duì)導(dǎo)體材料進(jìn)行快速脈沖電加熱并在高溫狀態(tài)下測(cè)試其比熱容的方法。
本方法直接對(duì)試樣進(jìn)行快速脈沖電加熱試驗(yàn)，周期短，測(cè)試中由脈沖電加熱所獲得的熱量來(lái)不及散失，測(cè)試就已結(jié)束，電脈沖加熱的能力幾乎被試樣完全吸收，測(cè)試精度較高。
高速脈沖法測(cè)試系統(tǒng)采用毫秒級(jí)靈敏度和分辨率的光電高溫計(jì)和高速數(shù)據(jù)采集裝置，能迅速測(cè)試通入試樣的電能和試樣的溫度變化等各項(xiàng)參數(shù)值，測(cè)試溫度可高達(dá)試樣的熔點(diǎn)。
方法：將一根細(xì)小的試樣在真空中快速加熱，在試樣中心部位安裝兩支探針，測(cè)量試樣在兩探針之間的電壓降和電流，控制脈沖加熱時(shí)間，測(cè)量通過(guò)試樣的電流和探針之間的電壓降與時(shí)間的函數(shù)關(guān)系。
高速脈沖法測(cè)試系統(tǒng)框圖
